FLIR CM174能够识别普通钳形表无法发现的问题。FLIR CM174采用IGM红外成像引导测量技术,集成FLIR Lepton®热成像传感器,提供一种在安全距离内识别热点和过载电路的可靠方式。红外成像引导测量技术明确引导您发现潜在电气问题的精确位置,通过丰富功能和温度读数助您确认发现结果
客服 :
电话:13818624135
邮箱: 13818624135@126.com
地址:中国 上海市浦东新区 莲溪路550弄14号504室
Copyright © 上海科王实业有限公司 版权所有 ICP备:沪ICP备14045305号